פרופ' יוסף ברנשטיין אמינות התקנים מקרו אלקטרוניים 83-638
 |
CMOS Electronics: How It Works, How It Fails by Jaume Segura, Charles F. Hawkins Publisher: IEEE 621.38215 SEG c |
 |
Physics-of-failure based handbook of microelectronic systems by Shahrzad Salemi ... et al. Publisher: University of Maryland 621.381 PHY 2008 |
תאריך עדכון אחרון : 04/12/2022
